针对 RF 前端芯片、模拟信号芯片、模数混合信号等芯片测试用户提供自动化测试测量解决方案。我们采用统一的测试平台和模块化设计构建芯片测试系统,测试功能可覆盖芯片实验室设计验证(Design & Verification)阶段、小批量实验室样片测试阶段、量产测试阶段等全周期自动化测试。
应用案例:
ADC 数据转换芯片测试系统
消费电子产品功耗测试系统
红外焦平面探测器性能参数测试系统
离子注入机剂量控制系统