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红外焦平面探测器性能参数测试系统

半导体芯片测试

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红外焦平面探测器性能参数测试系统

红外焦平面探测器性能参数测试系统

系统功能

  • 1）红外探测器性能测试
  • 2）响应率、噪声测量
  • 3）均匀性评估

技术特点

  • 1.低温测试环境
  • 2.高精度黑体辐射源
  • 3.自动化数据分析
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