应用案例
半导体芯片测试
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红外焦平面探测器性能参数测试系统



系统功能

1)依据国标GB/T 17444-2013,实现红外焦平面探测器电光学参数测试

2)红外焦平面实时成像、参数分析与图像显示

3)可用于红外焦平面探测器研制过程中的性能评估及生产过程中的性能检测

技术特点

1)极低噪声驱动与采集系统,满足高灵敏度红外探测器测试要求

2)模块化设计,可灵活配置与升级

3)高速采集与信号处理能力,支持大面阵高帧频红外焦平面探测器实时测试评估

4)专业测试分析软件,友好的图形化操作界面