系统功能
ADC/DAC芯片测试系统的核心测控功能基于统一的PXI平台构建，采用模块化的软硬件设计，可覆盖芯片实验室设计验证（Design&Verification）阶段、小批量实验室样片测试阶段、量产测试阶段等全周期自动化测试。
技术特点
1）广泛应用于高性能数据转换器（16-bit/24-bit AD/DA）、电源管理芯片（BMS AFE）、功率管理芯片（PMIC）、隔离放大器、MEMS、MCU等芯片测试。
2）针对模拟/混合信号芯片的实验室设计验证、小批量测试与量产测试提供一站式解决方案
3）基于工业标准的模块化硬件设计，结合高效通用的测试软件，可大幅提高并行测试效率，支持8-site并行测试，在实验室测试与产线测试方面都具有强大的性能表现
4）强大的模拟与数字测试能力，高性能的SMU电源与声音信号源，单机高达256通道的数字pattern仪器，测试功能可覆盖主流模拟/混合信号芯片的数据转换精度与速率、功率转化精度与时延、典型静态与动态性能指标等参数
5）提供高精度、高稳定性的LoadBoard和Dutboard，从容应对高性能模拟芯片、SMU、动态信号源等精密仪器所带来的严苛挑战，为芯片自动化测试系统提供高质量、可重复的信号测试链路
6）提供良好的开发环境，灵活的参数配置和高效的调试工具，实现测试程序快速开发和验证。提供量产测试模式，快速对接工厂IT接口，实现产测部署
| 序号 | 测试项 | 技术指标 |
| 1 | ADC/DAC类型 | Sigma-Delta，SAR，Flash/Pipeline等 |
| 2 | ADC/DAC位数 | 8-24 bit |
| 3 | 数字模式仪器 | 200Mbps至12.5Gbps，兼容低速串行Serial（I2C、SPI）、高速LVDS、高速串行Serdes（JESD204B，Aurora） |
| 4 | 模拟信号源 | 动态信号源：24 bit,204.8kS/s， THD+N<-110dB |
| 静态信号源：accuracy 50uV | ||
| 5 | 模拟采集仪器 | 动态采集仪器：24 bit，204.8kS/s，动态范围119dB |
| 静态采集仪器：7位半万用表 | ||
| 6 | 激励电源模块 | 电压：-60V至+60V；电流：-3A至3A |
| 功率40W，带源测功能 |
